最新ULV-SEMと高性能分析機器の活用に関するセミナー 第一部/第二部
「最新の走査電子顕微鏡でここまでできる材料組織解析 ー多様な検出器の最大活用ー」
「イメージング・分析・画像解析の全てを 高精度かつ高速に:最新ZEISS GeminiSEM 460 Gemini Technologyのご紹介」
「材料表面特性を解釈するための極表面・断面解析技術」
「高感度EBSD検出器Symmetry/SymmetryS2とULV-SEMを組み合わせた応用例」
「機械特性を支配する金属材料組織・ひずみ 分布解析」
「お客様ニーズに応じてナノ解析センターが 提供する解析事例」
加熱SEM観察‐DIC解析法による樹脂/金属界面の熱ひずみ評価
ULV-SEM Laboratory,Chita 開設記念ワークショップ 第1部 極低加速電圧でのSEM観察
Unlock the Gemini technology for most informative and most surface sensitive imaging and analysis
「低加速電圧走査電子顕微鏡が実現するイノベーション」~最新ZEISS Gemini SEM 460 Gemini Technology のご紹介~
最新の走査電子顕微鏡を用いた材料組織解析 ーSweet spot条件で観察しようー
ULV-SEM Laboratory,Chita 開設記念ワークショップ 第2部 極低加速電圧でのSEM-EDX分析
An introduction to Oxford instruments and the developments of nano-characterization using SEM-EDX
「ウィンドウレスEDX検出器Ultim Extreme と ULV-SEMを組み合わせた応用例」
「極低加速電圧でのEDX分析」ーSweet spot 条件のまま元素分析ー
ULV-SEM ハイライト ー”見逃されていた真実”とはー
JFEテクノリサーチ 高度解析技術講座(第1シリーズ)
CAEの活用事例のご紹介 (1)結合に関わる構造解析のシミュレーション
CAEの活用事例のご紹介 (2)疲労、破壊、き裂に関わる構造解析の シミュレーション
CAEの活用事例のご紹介 (3)超弾性材料や異材接合の界面剥離に関わる 構造解析のシミュレーション
CAEの活用事例のご紹介 (4)流体・粒子・流体構造連成
CAEの活用事例のご紹介 (5)原子力施設を対象とした ガイドラインに基づく数値解析
JFEテクノリサーチ 高度解析技術講座(第2シリーズ)
強度評価試験における可視化技術 (1)概要:ひずみと応力について
強度評価試験における可視化技術 (2)3次元画像相関(3D-DIC)による 変位・ひずみの可視化
強度評価試験における可視化技術 (3)赤外線カメラによる応力解析
極低加速電圧条件におけるSEM観察とEDX分析の両立
STEMによるPEFC触媒の3次元可視化と劣化挙動評価
熱流体解析における可視化実験とのコリレーション事例
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